Mon ÉTS  |  Bibliothèque  |  Bottins  |  Emplois  |  Intranet  |  ENGLISH
2009  

Circuits intégrés

Christelle Hobeika, étudiante au doctorat en génie électrique, se distingue

15 juin 2009
Christelle Hobeika, étudiante au doctorat en génie électrique, a reçu la mention de la Meilleure affiche étudiante lors de l'IEEE VLSI Test Symposium le 6 mai 2009 à Santa Cruz en Californie. Cet événement est considéré comme le 2e colloque en importance dans le domaine des tests de circuits intégrés et de puces électroniques.

Le projet qu'a présenté Christelle Hobeika permettra le développement d'une nouvelle méthodologie de vérification de circuits intégrés. La vérification englobe l’ensemble des étapes effectuées avant la fabrication d’une puce électronique pour s’assurer de son bon fonctionnement, par opposition au test qui vient après la fabrication de la puce.

Les travaux de Mme Hobeika ont permis d’établir une meilleure relation entre la vérification et le test et de tirer profit de certains outils avancés de génération automatique de vecteurs de test, afin d’améliorer et d’accélérer le processus de vérification, qui constitue le principal goulot d’étranglement dans la conception de systèmes complexes.

Christelle Hobeika effectue son doctorat sous la codirection des professeurs Claude Thibeault et Jean-François Boland, du Département de génie électrique.

Voir aussi:
Laboratoire de communications et d'intégration de la microélectronique (LACIME)

Pour information
Sébastien Langevin
Service des communications
514-396-8973

NouvellesFil RSS